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金相顯微鏡

簡要描述:
金相顯微鏡 :用于IC芯片 爆破粒子 新材料分析 電子元器件 鍍層涂層 盲孔檢測,帶拍照截圖功能 可輸出報告。

更新時間:2024-06-19

訪問量:949

廠商性質:代理商

生產地址:浙江

品牌其他品牌價格區間面議
配備圖像分析系統產品種類正置
產地類別國產應用領域綜合

金相顯微鏡CX40M用于IC芯片 爆破粒子 新材料分析 電子元器件 鍍層涂層  盲孔檢測,帶拍照截圖功能  可輸出報告。

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測量功能:點間距、點線間距、線間距、圓心距、弧、圓、角、矩形、多邊形測量、定標功能

輸出報告:文件管理、拍照命名、拍照路徑設置、導出數據到EXCEL和TXT;提供完整的圖像采集編輯測量報告輸出功能EXCEL和TXT

高效圖像采集編輯_測量-報告輸出

從用戶操作體驗出發,提供完整的圖像采集-編輯測量報告輸出一系列工作流,

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無論是明場、暗場、偏光成像均能得心應手wan美ISP核心色彩還原技術,能夠有效地改善傳感器對光譜響應的色彩偏差,精準還原顯微視野下的真實色彩。優異的成像性能,

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整合最新金相顯微鏡技術優勢,以優異的成像性能、舒適的操作體驗,為客戶提供高性價比的金相分析及工業檢測解決方案。拍照錄像,帶測量軟件 ,、多邊形測量、定標功能

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光學系統:無限遠色差校正光學系統

雙觀察筒:30°傾斜,無限遠鉸鏈雙目觀察筒,瞳距調節: 54mm~75mm,單邊視度調節:士5屈光度

                30°傾斜,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節: 54mm~75mm,單邊視度調節:士5屈光度,兩檔分光比R:T=100:0或50:50

目鏡:

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm (帶測微尺)

高眼點大視野平場目鏡PL10X 22mm (視度可調)

高眼點大視野平場目鏡PL15X 16mm


物鏡:

平場無限遠長工作距消色差金相物鏡(5X、 10X、 20X、 50X、 100X)

無限遠半復消帶校正環物鏡(50X)


物鏡轉換器:內定位五孔轉換器

透反兩用機架,低手位粗微同軸調焦機構,粗調行程28mm,微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松粗微調焦機構

緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構,最大樣品高度28mm

反射機架,低手位粗微同軸調焦機構,粗調行程28mm,微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝

置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構,最大樣品高度78mm


載物臺

雙層機械移動平臺,低手位X、Y方向同軸調節;平臺面積175X 145mm,移動范圍: 76mmX42mm

可配反射用金屬載物臺板,透反兩用玻璃載物臺板


上照明系統

自適應寬電壓100V-240V. _AC50/60Hz,反射燈室,單顆大功率5WLED,暖色,柯拉照明,帶視場光闌與孔

徑光闌,中心可調,帶斜照明裝置


下照明系統

自適應寬電壓100V-240V _AC50/60Hz,透射燈室,單顆大功率5WLED,暖色


聚光鏡

透射用搖出式消色差聚光鏡(N.A0.9), 帶可變孔徑光闌,中心可調

透射用濾色片:黃色、1F550 濾色片、LBD 濾色片、中性濾色片

攝影攝像附件: 1X、0.67X、 0.5XC 接口,可調焦; 3.2X攝影目鏡,攝像接筒(帶 PK卡口或MD卡口)數


其他附件

碼相機中繼鏡

反射用干涉濾色片:藍色≤480nm ;綠色520nm~570nm ;紅色630~750nm ; LBD

高精度測微尺,格值0.01mm

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